美國LUMETRICS非接觸式測厚儀

Lumetrics 品牌OptiGauge系列厚度測量系統(tǒng)采用了短相干光源的邁克爾遜干涉儀原理。 測量原理：低相干邁克爾遜干涉儀

如圖所示：

Light Source(短相干光源)發(fā)出短相干光束，經(jīng)Beamsplitter分束成兩束光，這兩束光通過準直儀聚焦到Measurement arm(測量臂)和Reference arm(參考臂)上；在測量臂段，光束經(jīng)待測物前后兩表面反射產(chǎn)生兩束反射光；在參考臂段，光束被delay line(延遲線路)中的掃描參考鏡反射。各反射光束經(jīng)光纖返回到Beamsplitter 中，此時掃描反射鏡反射的光束分別與R1和R2兩束光發(fā)生干涉產(chǎn)生兩干涉信號經(jīng)探測器(光電二級管)轉(zhuǎn)換為電信號再由顯示儀顯示。參考鏡位置可以準確移動，當干涉儀的測量臂與參考臂光程相等時，才能夠發(fā)生干涉。這樣通過監(jiān)控參考鏡的移動，就可以測量被測鏡的位置。

OptiGauge測厚儀特點

1. 非接觸式、非破壞性；2. 實時在線測量或離線測量；3. 可單次測量多層膜，MAX可測 20 層；4. 探針靈活配置，實現(xiàn)多個不同目標測量 （MAX可配8個探頭）；5. 測試速度快（1s）6. 適用范圍廣

測厚儀性能參數(shù)：

型號	OptiGauge® LT	OptiGaugeII	OptiGauge EMS
測量范圍（n=1.5）	12μm to 3.3 mm	12μm to 12 mm	12μm to 35 mm
測量層數(shù)	1	20	20
JUE DUI精度	±1μm	±0.1μm	±0.1μm
重復(fù)精度	1μm 1σ	0.1μm 1σ	0.1μm 1σ
掃描速率	50Hz	50Hz,100Hz 和200Hz可選	20Hz
光源	1310nm SLED 45nm wide	1310nm SLED 45nm wide	1310nm SLED 45nm wide
測量頭工作距離	25mm and 50mm	25mm and 50mm	25mm and 50mm
光纖長度	3m，max 1000m	3m，max 1000m	3m，max 1000m

測厚儀應(yīng)用領(lǐng)域：

Lumetrics 產(chǎn)品既可以提供單獨的測量頭，也可以集成在各種設(shè)備中，廣泛應(yīng)用在以下領(lǐng)域，

1、光電子行業(yè)：

2 、薄膜行業(yè)：測量塑料薄膜的厚度

3 、YILIAO行業(yè)：測量滴液管、塑料管壁厚、糖尿試紙、血袋等

4、單件元件厚度控制（特別適用于紅外材料，測量厚度控制平行度）5 、平板玻璃厚度測試：浮法玻璃、液晶平板 透鏡中心厚及膠合間隙測量

公司成立于2010 年，專業(yè)代理歐美（美國、加拿大、德國、英國、瑞士等）高精度的光學(xué)檢測設(shè)備，致力于為科研和工業(yè)客戶提供一流的光學(xué)檢測解決方案及包括售前、售中和售后在內(nèi)的全方位服務(wù)。主要包括：光學(xué)檢測產(chǎn)品：應(yīng)力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射儀、非接觸式測厚儀、測角儀、可調(diào)相位延遲波片等；激光檢測產(chǎn)品：激光功率計、能量計、光束質(zhì)量分析儀、THZ 探測器等；其他產(chǎn)品：集成系統(tǒng)所需的激光器、步進位移平臺、偏振光轉(zhuǎn)換器等；顯微系統(tǒng)所需的XYZ 電動載物臺、波片進片機、高速相機ICCD、像增強器300ps 門控時間、FLIM、高精度脈沖延時器等。近年來公司科研團隊自主研發(fā)PCI弱吸收測量儀，CRD光腔衰蕩法高反測量儀，偏心曲率測量儀等產(chǎn)品，相關(guān)指標達到國際先進水平。

主營產(chǎn)品：測厚儀,應(yīng)力儀,玻璃檢測儀器,光學(xué)檢測儀器,激光功率計,能量計,光束質(zhì)量分析儀 公司成立年份：2010
公司網(wǎng)址：http://BJOPCROWN.glass.com.cn

地區(qū)：北京 北京 海淀區(qū)
網(wǎng)址: http://BJOPCROWN.glass.com.cn