電壓擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀

電壓擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀的測試過程可由單片機(jī)控制。測試結(jié)果顯示在液晶屏上。同時(shí)，數(shù)據(jù)可以通過通信端口傳輸?shù)接?jì)算機(jī)。計(jì)算機(jī)控制測試過程并處理測試數(shù)據(jù)。單片機(jī)控制具有明顯的優(yōu)勢。由于不使用電腦，設(shè)備的安裝和使用都很簡單，可以通過連接電源線進(jìn)行測試。

擊穿電壓是導(dǎo)致電介質(zhì)擊穿的電壓。當(dāng)電場足夠強(qiáng)時(shí)，電介質(zhì)將失去其介電性質(zhì)而成為導(dǎo)體，稱為介質(zhì)擊穿，相應(yīng)的電壓稱為擊穿電壓。介質(zhì)擊穿的電場強(qiáng)度稱為擊穿場強(qiáng)。

不同電介質(zhì)在同一溫度下的擊穿場強(qiáng)不同。當(dāng)電介質(zhì)和電容器兩個(gè)極板之間的距離d固定時(shí)，u1-u2=ed，擊穿電壓由擊穿場強(qiáng)決定。擊穿場強(qiáng)也稱為介電強(qiáng)度。介電強(qiáng)度是提高電容器耐壓能力的關(guān)鍵。

電壓擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀在測試中會(huì)受到下面這幾種因素的影響：

1、頻率

在擊穿區(qū)，如果頻率的變化不改變電場的均勻性，則擊穿電壓幾乎與頻率無關(guān)。在熱擊穿區(qū)，如果頻率和不變，擊穿電壓與頻率的平方根成反比。例如，具有厚度的玻璃在工頻下的擊穿電壓為（RMS），而在高頻下的擊穿電壓僅為（RMS）。由于頻率的增加和介質(zhì)損耗的增加，導(dǎo)致熱擊穿過程升溫，促進(jìn)了熱擊穿過程的發(fā)展。

2、溫度

在一定溫度范圍內(nèi)，固體介質(zhì)的擊穿特性屬于電擊穿，擊穿場強(qiáng)很高，幾乎與溫度無關(guān)。溫度越高，熱擊穿電壓越低。如果周圍介質(zhì)的溫度也很高，在工作電壓下就有熱擊穿的危險(xiǎn)。不同的固體電介質(zhì)具有不同的耐熱性和耐熱等級(jí)，因此從電擊穿到熱擊穿的臨界溫度一般是不同的。

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