北京飛凱曼科技有限公司

主營:霍爾效應測試儀,塞貝克熱電效應測試儀,應力雙折射測試儀,薄膜應力測試儀,孔徑測量儀,空隙測量儀,劃片機,朗繆爾探針,橢偏儀,鍍層測厚儀,摩擦磨損測試儀,劃痕儀,準確劃片機,薄膜殘余應力測試儀

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  • 塞貝克熱電效應測試儀
    塞貝克熱電效應測試儀

    北京飛凱曼公司提供塞貝克熱電效應測試儀系統(tǒng)。塞貝克效應是一種物理現(xiàn)象,即兩種不同的導體材料或者半導體材料(如右圖所示)之間的溫度差異在接觸時會產生電勢差。當熱量施加在兩種導體或者半導體中的一個時,熱電子流會從熱端流向冷端。當這對材料通過電子回路連接時,直流電流(DC)就會從回路中流過。塞貝克效應產生的電壓很小,通常在連接點每開氏溫度只有幾個微伏或幾個毫伏。如果溫度差足夠大,一些塞貝克效應器件可以產

    2014-03-12 面議/臺
  • 朗繆爾探針
    朗繆爾探針

    北京飛凱曼公司提供朗繆爾探針測試系統(tǒng)。朗繆爾探針是等離子體性質的診斷方式之一,也是較基本的診斷方式。向等離子體中插入一根極小的電極,然后加上一定的電壓,測定通過的電流與所加電壓的關系,可以得到探針的電壓-電流特性曲線。再根據(jù)曲線上的特殊點就可以求得等離子體的密度、電子溫度、等離子體電位和懸浮電位。 本公司提供的朗繆爾探針,是根據(jù)我們科研工作者長期的扎實的理論研究和實際工藝探索,研制的一套適用于等

    2014-03-12 面議/臺
  • 薄膜應力測試儀
    薄膜應力測試儀

    北京飛凱曼科技公司提供薄膜應力測試儀。薄膜應力測試儀,又名薄膜殘余應力測試儀或薄膜應力儀,是專門用于測試和研究薄膜材料和薄膜制備工藝的必不可少的工具。 薄膜中應力的大小和分布對薄膜的結構和性質有重要的影響, 可導致薄膜的光、電、磁、機械性能改變. 例如, 薄膜中的應力是導致膜開裂或與基體剝離的主要因素, 薄膜中存在的殘余應力很多情況下影響MEMS 器件結構的特性, 甚至嚴重劣化器件的性能, 薄膜

    2014-03-12 0
  • 霍爾效應測試儀
    霍爾效應測試儀

    北京飛凱曼公司提供霍爾效應測試儀。臺灣SWIN公司生產的霍爾效應測試儀?(Hall Effect Measurement System)是性能穩(wěn)定、功能強大、性價比高的霍爾效應儀,在國內高校、研究所及半導體業(yè)界擁有廣泛的用戶和知名度。本儀器輕巧方便,易于攜帶,主要用于量測電子材料之重要特性參數(shù),如載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等,薄膜或體材料均可,其原理主要依據(jù)范德堡法則。? 除了用來判斷

    2014-03-09 面議/臺
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