鍍膜玻璃缺陷檢測(cè)，玻璃檢測(cè)設(shè)備

       鍍膜玻璃是一種經(jīng)過(guò)特殊處理的玻璃制品，在玻璃表面涂鍍一層或多層金屬、合金或金屬化合物薄膜，以改變玻璃的光學(xué)性能，滿足某種特定要求，廣泛應(yīng)用于建筑、汽車(chē)、太陽(yáng)能、電子等領(lǐng)域。為了確保鍍膜玻璃的質(zhì)量，需要對(duì)其進(jìn)行嚴(yán)格的檢驗(yàn)。

       關(guān)于鍍膜玻璃外觀檢測(cè)，本文分享基于機(jī)器視覺(jué)技術(shù)對(duì)鍍膜玻璃的外觀進(jìn)行檢測(cè)，通過(guò)高速相機(jī)進(jìn)行圖像采集，采用傳統(tǒng)機(jī)器學(xué)習(xí)方法、深度學(xué)習(xí)以及人工規(guī)則結(jié)合的方式對(duì)缺陷進(jìn)行智能分類(lèi)，檢測(cè)項(xiàng)目包括孔洞、斑點(diǎn)、劃傷、掉渣等缺陷。

基于機(jī)器視覺(jué)技術(shù)鍍膜玻璃外觀缺陷檢測(cè)

       孔洞：孔洞是從鍍膜玻璃的膜面方向觀察，由于玻璃未附著膜層或膜層較薄而造成的透明點(diǎn)狀缺陷。

       劃傷：包括膜面劃傷和玻面劃傷，表面各種線狀的劃痕。膜面劃傷缺陷的原因有：①鍍膜生產(chǎn)后期出現(xiàn)粉子后易造成膜面劃傷；②在退火擋簾處及產(chǎn)品運(yùn)行至裝箱區(qū)域過(guò)程中，受外力影響出現(xiàn)膜面劃傷；③改切產(chǎn)品易受操作環(huán)境影響造成膜面劃傷。玻面劃傷缺陷的原因有：在錫槽出口至裝箱區(qū)域過(guò)程中、改切產(chǎn)品受外力影響等原因易造成玻璃面劃傷。

       掉渣：鍍膜玻璃膜層表面出現(xiàn)的局部掉膜或脫膜現(xiàn)象。

       斑點(diǎn)：斑點(diǎn)是從鍍膜玻璃的膜面方向觀察，與膜層整體相比，色澤較暗的點(diǎn)狀缺陷。斑點(diǎn)缺陷的原因有：因受過(guò)渡輥臺(tái)較臟、錫槽水包臟掉雜物、粉子吸附能力較差等原因的影響，在鍍易潔膜周期的后階段，易出現(xiàn)斑點(diǎn)現(xiàn)象。

斑紋：從鍍膜玻璃的反射方向看，膜層表面色澤發(fā)生變化的云狀放射狀或條紋狀的缺陷。斑紋缺陷的原因有：主要是由于反應(yīng)器后期結(jié)粉子而造成抽力不均，錫槽氣流調(diào)整不當(dāng)，鍍膜區(qū)溫度制度不合理，玻璃板問(wèn)題（溫度不均、玻筋、線道）等原因易造成斑紋。

       賽拓玻璃光檢機(jī)/玻璃檢測(cè)設(shè)備主要用于在線檢玻璃缺陷，對(duì)玻璃的表面進(jìn)行缺陷檢測(cè)。設(shè)備采用模塊化和積木式結(jié)構(gòu)，能靈活適用各種產(chǎn)線寬度、產(chǎn)線速度和測(cè)量精度要求。

賽拓玻璃光檢機(jī)-標(biāo)準(zhǔn)機(jī)

       賽拓玻璃光檢機(jī)/玻璃檢測(cè)設(shè)備主體分為圖像采集單元和軟件處理單元，其中，圖像采集系統(tǒng)采用多場(chǎng)多光源成像技術(shù)，保證缺陷檢出率及分類(lèi)準(zhǔn)確率，降低誤檢率，提高產(chǎn)品良率；同時(shí)自適應(yīng)光源強(qiáng)度調(diào)節(jié)技術(shù)，提高產(chǎn)品兼容性，對(duì)透光率低玻璃有良好檢測(cè)能力；軟件處理單元使用高速嵌入式實(shí)時(shí)圖像處理和特征提取技術(shù)，保證系統(tǒng)常時(shí)高穩(wěn)定性；應(yīng)用深度學(xué)習(xí)等人工智能缺陷識(shí)別技術(shù)，保證系統(tǒng)的缺陷種類(lèi)識(shí)別率；設(shè)備搭載的可視化軟件，提供高分辨率實(shí)時(shí)2D圖像，直觀的觀察缺陷顯示，同時(shí)系統(tǒng)支持多種通信接口，可無(wú)縫對(duì)接現(xiàn)場(chǎng)線控或工業(yè)機(jī)器人等設(shè)備。